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Materialcharakterisierung am ZSW

Materialanalysen und Post-mortem-Analysen sind als Zusatzleistung zusammen mit Elektrodenprüfungen oder als Einzelauftrag verfügbar.

Alle Arten von Materialien.

Das ZSW ist in der Lage, alle Analyse- und Prüfschritte durchzuführen, von der Grundlagenforschung bis zur Marktreife und von der Materialanalyse bis hin zu Megawatt-Stacks.

Wichtige Merkmale

Analysemethoden und -kapazitäten (unter anderem):

REM mit EDX und FIB-REM (Rasterelektronenmikroskopie mit fokussiertem Ionenstrahl)

Hochauflösende Bildgebung von Oberflächen und Querschnitten.
FIB ermöglicht ortsspezifische Probenvorbereitung und 3D-Strukturanalyse.
Die Analyse der Elementzusammensetzung erfolgt im SEM.

GDOES (Glow-Discharge-Optische-Emissionsspektroskopie)

Tiefenprofilierung von mehrschichtigen Materialien.
Schnelle und quantitative Elementanalyse.

XRD (Röntgendiffraktometrie)

Kristallstrukturanalyse.
Phasenidentifizierung und Texturmessungen.

XPS (Röntgen-Photoelektronenspektroskopie)

Oberflächensensitive Technik zur Analyse des chemischen Zustands in einer Tiefe von ca. 10 nm.
Identifiziert Oxidationszustände und Bindungsumgebungen.

ToF-SIMS (Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie)

Hochempfindliche, hochauflösende chemische Analyse.
Hervorragend geeignet für Dünnschichten und Tiefenprofilierung.

Materialcharakterisierung am ZSW

Materialcharakterisierung am ZSW

Wichtige Merkmale

Elektrolyseuntersuchungen am ZSW

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